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http://hdl.handle.net/20.500.14076/14345
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | Azuero, Pedro | - |
dc.contributor.author | Castillo Ocaña, Guido Juvenal | - |
dc.contributor.author | Valera Palacios, Aníbal | - |
dc.creator | Castillo Ocaña, Guido Juvenal | - |
dc.creator | Castillo Ocaña, Guido Juvenal | - |
dc.date.accessioned | 2018-10-05T00:26:04Z | - |
dc.date.available | 2018-10-05T00:26:04Z | - |
dc.date.issued | 2001-12-01 | - |
dc.identifier.citation | Azuero, P., Castillo Ocaña, G., & Valera Palacios, A. (2001). Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS. TECNIA, 11(2). https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.517 | es |
dc.identifier.issn | 2309-0413 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/20.500.14076/14345 | - |
dc.description.abstract | En este trabajo se presenta el resultado de la aplicación de la técnica de fotocorriente espectral en el análisis cuantitativo de semiconductores, en el caso específico de películas de sulfuro de cadmio (CdS). Se presentan tres modalidades de medición, cuyos resultados son en sí complementarios y confirman, que los niveles de energía más relevantes en CdS, desde el punto de vista fotoeléctrico, corresponden a los valores: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 y 2,60 eV | es |
dc.description.abstract | In this work, we present results of spectral photocurrent measurements in the quantitative diagnostic of semiconductors, in the specific case of cadmium sulfide (CdS) thin films. We present three measurement modalities. The results are each other complementary and confirms, that the most relevant energy levels in CdS, from the photoelectric point of view, correspond to the values: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 and 2,60 eV | en |
dc.format | application/pdf | es |
dc.language.iso | spa | es |
dc.publisher | Universidad Nacional de Ingeniería | es |
dc.relation.ispartofseries | Volumen;11 | - |
dc.relation.ispartofseries | Número;2 | - |
dc.relation.uri | http://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/517 | es |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | es |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | es |
dc.source | Universidad Nacional de Ingeniería | es |
dc.source | Repositorio Institucional - UNI | es |
dc.subject | Fotocorriente espectral | es |
dc.subject | Photocurrent spectroscopy | es |
dc.title | Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article | es |
dc.identifier.journal | TECNIA | es |
dc.description.peer-review | Revisión por pares | es |
dc.identifier.doi | https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.517 | es |
dc.contributor.email | avalera@uni.edu.pe | es |
Appears in Collections: | Vol. 11 Núm. 2 (2001) |
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